Analitica con i raggi X

L’ufficio geologia e prove materiali da poco ha acquistato una nuova strumentazione “BTX Profiler” per analizzare in un modo più approfondito terre, rocce ed altri materiali da costruzione. Questa strumentazione consente una caratterizzazione molto dettagliata. Il Profiler contiene due strumenti: un diffrattometro a raggi x per analizzare sostanze mineralogiche (XRD- X-Ray-Diffraction) e una fluorescenza a raggi x (XRF- X-Ray-Fluorescence) per analizzare i singoli  elementi. Utilizzando il BTX Profiler è possibile individuare singole fasi di minerali ed elementi (da Mg a U) in campioni di polvere, in modo qualitativo e quantitativo.